新技術を用いた望遠鏡測距儀(LECD技術)

半導体デバイスの高解像度の開発に伴い、パルスレーザー測距儀の技術はますます成熟し、+/-0.1mに達するほどの高解像度となりました。
しかし、高解像度でもパルス測距儀の精度は向上しません。これは屋外の物体の反射が異なるためです。
望遠鏡測距儀


レーザーが異なる反射物体に照射されると、エコーが生じます。エコーは異なる反射率によって影響を受けます。低い反射率:エコーが広がる。高い反射率:エコーを低減します。
エコー信号については対応する処理が必要で、そうでなければ、低反射の物体は同じ位置、同じ距離に置くと距離が長くなります。逆もまた然りです。
LECD技術を採用しましょう。これにより、レーザーが異なる反射物体に照射した際に、精度分解能内で距離を賢く識別できます。

比較の掘り下げ。以下のように: